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【摘 要】：关注 文章 浏览量 SWA512大规模集成电路测试仪 测试通道: 二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路 二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路 三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路 设备可以64通道

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SWA512大规模集成电路测试仪

测试通道:

二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路

二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路

三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路

设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道

功能用途:

1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

2)可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试;

3)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

4)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

5)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

6)快速准确定位失效集成电路故障管脚，高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

7)测试安全可靠，全面解决器件工艺、电路板工艺问题，快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

8)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

9)专业操作管理平台:可根据需求编辑测试流程程序，完成自定义化测试，软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程，使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程)。保证了测试工艺的一致性，排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化。

技术规格:

实时探笔对比测试通道:4路

同步脉冲信号:4路

测试电压范围:2V ~ 50Vp-p;

显示图形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;

信号电流范围:1μA to 150mA

测试阻抗范围:100Ω ~ 1MΩ;

三维立体V-I-F测量方式:扫频;

同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;

同步信号振幅:可调式由 +10 V ~- 10V;

主要优势:

1)提供软件开发平台，兼容其他厂商测试设备;

2)特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性(配合同步脉冲);可设定同步脉冲信号的宽度，进行可控硅元器件或FET的功能测试。可测试三段期间开关时间特性。

3)动态阻抗分析功能，可以对三维图形进行参数的测量;

4)变频或扫频三维立体V-I-F测量方式，三维立体显示器件的端口特性曲线，可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或集成电路。

5)非加电条件下静态诊断集成电路， 不必外加电源即可进行测试。测试更安全:矩阵式扫频测试，脉冲输出进行的动态V/T测试。

责任编辑:gt

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