文章摘要:为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法。该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来。测试过程易于操作、增强了可读性。与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高。因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响。

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论文分类号:TN407