【作 者】：网站采编
【关键词】：
【摘 要】：文章目录 1 平台简介 2 数字芯片测试过程 2.1 待测芯片介绍 2.2 测试程序编写 2.2.1 开短路测试程序编写 2.2.2 功能测试程序编写 2.3 测试结果及分析 3 结束语 文章摘要:为提高芯片性能可靠

文章目录

1 平台简介

2 数字芯片测试过程

2.1 待测芯片介绍

2.2 测试程序编写

    2.2.1 开短路测试程序编写

    2.2.2 功能测试程序编写

2.3 测试结果及分析

3 结束语

文章摘要:为提高芯片性能可靠性,提出了基于LK8810平台的数字芯片性能的测试方法,并基于LK8810测试机在平台上对典型数字芯片SN74LS08芯片进行系统化测试,对SN74LS08芯片的功能、关键参数进行了测试和研究,通过软硬件联调,结合芯片技术参数标准,提高测试结果的精准性。

文章关键词:

项目基金: