浅谈数字集成电路静态参数实验室间比对
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【摘 要】:随着我国经济建设水平的不断提升,对于各类电子元器件的需求也是与日俱增.目前,国内数字集成电路的可靠性水平与国际水平相比仍存在差距,因此对电子元器件进行二次筛选十分重要
随着我国经济建设水平的不断提升,对于各类电子元器件的需求也是与日俱增.目前,国内数字集成电路的可靠性水平与国际水平相比仍存在差距,因此对电子元器件进行二次筛选十分重要.本文介绍了一种针对数字集成电路静态参数的特殊形式测量审核方法,主要测试构架分为测试系统工控机和主测试系统两大部分.测试系统工控机可保证整个测试环节的高效性及高质性,主测试系统主要由各类直流交流电源通道板组成的测试主机、外围电路搭建集成的测试夹具以及待测试的标准样品组成,采用模块化设计,确保了整个过程的快速、灵活与准确.最后,通过具体案例对各实验室间结果进行比对,证明该方法二次筛选结果的准确性
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